XPS Peak Fit下载

XPS Peak Fit是一款广泛应用的有机化学分析软件，专注于执行XPS（X射线光电子能谱）分峰操作。该软件能够深入剖析化学物质表面层的有机成分及状态，对表层光电子能谱数据进行精确处理，并自动生成一系列关键参数。以下是使用XPS Peak软件进行数据拟合的简易步骤：

应用特点

XPS Peak Fit具备以下显著特点：

高效的数据处理能力，适用于多种XPS数据分析。

自动化参数生成，节省时间并提高分析精度。

丰富的拟合功能，支持不同类型的峰形分析。

直观的用户界面，便于操作和理解。

使用方法

以下是使用XPS Peak软件进行数据拟合的详细步骤：

数据准备：将Excel中的数据导出为TXT格式。仅选择需要拟合的数据点，复制至TXT文本文件中，并保存为*.txt文件。

数据导入：打开XPS Peak 41软件，在XPS Peak Fit对话框中，从“Data”菜单选择“Import (ASCII)”，导入转换后的TXT文件，即可显示谱线。

背景扣除：在“Region 1”对话框中，点击“Background”，选择“Boundary”的初始值，通常不需要更改“High BE”和“Low BE”的位置，选择“Shirley”类型进行背景扣除。

峰添加：点击“Add Peak”，选择合适的峰型（如s, p, d, f），在“Position”处指定峰位，需固定时段（fix前的小方框），并可选择半峰宽（FWHM）、峰总面积等。使用各类中的constraints固定该峰与另一峰的关系，例如，在W4f中，同一价态的W4f7/2和W4f5/2峰位间隔可固定为2.15eV，峰总面积比可固定为4:3。对于“% Lorentzian-Gaussian”选项，取消勾选fix，点击“Accept”进行峰的设定。点击“Delete Peak”可删除该峰。重复此步骤添加新的峰，注意将“% Lorentzian-Gaussian”值最终固定在20%左右。

拟合优化：选定所需拟合的峰数量及大致参数后，点击“XPS Peak Processing”中的“Optimise All”进行拟合。观察拟合后总峰与初始峰的重叠情况，如不理想，可多次点击“Optimise All”。

参数查询：拟合完成后，点击“XPS Peak Processing”对话框中“Region Peaks”下方的0、1、2等，可查询每个峰的参数。此时XPS峰中发红的曲线表示被选定的峰。如对拟合结果不满意，可调整这些峰的参数，然后再次点击“Optimise All”。

谱图存储：点击“Save XPS”可将谱图保存为.xps格式，下次开启时可通过“Open XPS”打开该图，并可对图进行编辑。

数据输出：

点击“Data”中的“Export (spectrum)”，将拟合好的数据保存为.dat格式的ASCII文档。在Origin中导入该ASCII文档，可获得一个包含两列的数据分析表。注意每列的标题可能存在错误（如.dat文档中的Raw Intensity可能分离到多列中作为多列的标题，即Raw、Intensity）。此时需要根据作出的图与.xps初始谱图进行比较，修改每列的标题，以获得正确的谱图。

点击“Data”中的“Export (Peak Parameters)”，将各峰参数导出为.par格式的文档。根据峰总面积可计算某元素在不同峰位的化学态成分比。

点击“Data”中的“Export to clipboard”，将图和数据复制到剪贴板上。打开文档（如Word），粘贴，即可将图和数据粘贴进去，但该图可能不够清晰。

点击“Data”中的“Print with peak parameters”，即可复印带有各峰参数的谱图。